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ナショナルインスツルメンツ社のモジュール式テスタ PXIe-6570 を使ったLSIテストの実習解説書です。LSIテスタは、LSIの開発や製造には不可欠な装置ですが、従来の装置は大掛かりな上、複雑なLSIのテスト手順やテスト記述言語の知識が必要なので、一般の計測器ほど習得は容易ではありません。しかし、近年、研究開発を想定した小型機種が複数の計測器メーカから発売され、初心者でもLSIテスタが簡単に扱えるようになりました。PXIe-6570の場合は、簡単なGUIで設定を行うようになっていて、VerilogHDLによるシミュレーションができる人ならすぐに使いこなせると思われます。また、LabViewのプログラミングができる人なら、他の計測器モジュールと組み合わせて、特殊な測定や高精度計測もできそうです。ここでは、市販のロジックICを使って、LSIテスタの基本操作を説明します。 主な仕様
[参考] LSIテスタまたはATE (Automated Test Equipment) は、LSIの動作検証や性能評価を行う装置ですが、ロジックアナライザとはかなり違っています。一番大きな違いは、サイクルベース検証、タイミング検証、電圧レベル検証が一括して行われることです。これにより、エラーが発生しない動作条件範囲を明確にすることができます。また、各IOピン毎に、論理振幅、インピーダンス、負荷などを設定したり、途中で変更することも簡単にできます。
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